A test method for analog circuits: using sensitivity analysis and the singular value decomposition
- Bagikan:
Tidak Tersedia Deskripsi
Ketersediaan
| 071810TXBPU2007 | Tersedia |
Informasi Detil
| No. Panggil |
621.381
|
|---|---|
| Jilid |
-
|
| Edisi |
1
|
| ISBN/ISSN |
90-386-0160-3
|
| Subyek | |
| Kata Kunci |
-
|
| DDC |
621.381
|
| TYPE |
TXB
|
| Bahasa |
English
|
| Penerbit | Technische Universiteit Eindhoven : Eindhoven., 1996 |
| Deskripsi Fisik |
XVII+C.3hlm.;24cm
|
| Info Detil Spesifik |
-
|
Literature Searching Service (LSS)
Hard copy atau foto copy dari buku ini dapat diberikan dengan syarat ketentuan berlaku, jika berminat, silahkan hubungi via telegram (Chat Services LSS)